布魯克輪廓儀：材料表面分析的得力工具

產(chǎn)品簡介

布魯克輪廓儀：材料表面分析的得力工具
材料科學研究中，深入了解材料表面的微觀形貌、粗糙度與結(jié)構(gòu)特征，對探究材料性能至關(guān)重要。布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借非接觸式測量優(yōu)勢與精細的數(shù)據(jù)分析能力，成為材料表面研究的實用設(shè)備。

產(chǎn)品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-22

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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布魯克輪廓儀：材料表面分析的得力工具

材料科學研究中，深入了解材料表面的微觀形貌、粗糙度與結(jié)構(gòu)特征，對探究材料性能至關(guān)重要。布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借非接觸式測量優(yōu)勢與精細的數(shù)據(jù)分析能力，成為材料表面研究的實用設(shè)備。

一、產(chǎn)品細節(jié)

ContourX-100 機身采用模塊化設(shè)計，主要由光學測量單元、樣品臺與控制終端組成，各模塊連接穩(wěn)固，便于日常維護。光學測量單元外殼采用鋁合金精密壓鑄，重量輕且剛性好，內(nèi)部光學元件通過防震支架固定，減少移動設(shè)備時的震動影響。

樣品臺采用大理石臺面，具有低導熱性與高穩(wěn)定性，可降低環(huán)境溫度變化對樣品放置的影響。臺面配備可調(diào)節(jié)夾具，能固定尺寸在 5mm - 100mm 范圍內(nèi)的材料樣品，夾具接觸面覆蓋硅膠墊，避免劃傷樣品表面。控制終端內(nèi)置高性能處理器，支持快速數(shù)據(jù)運算，可在測量完成后 10 秒內(nèi)生成三維圖像。

二、產(chǎn)品性能

該設(shè)備采用共聚焦與白光干涉復合測量模式，可根據(jù)材料特性切換測量方式。對于粗糙金屬表面，選用白光干涉模式能獲取更豐富的微觀結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)；對于透明薄膜材料，共聚焦模式可清晰呈現(xiàn)層間結(jié)構(gòu)。

垂直測量分辨率達 0.1nm，能捕捉材料表面納米級的起伏變化，如金屬腐蝕坑的深度、薄膜表面的褶皺高度等。水平測量范圍最大可達 10mm，可兼顧微觀局部與宏觀整體的表面分析。設(shè)備支持多種粗糙度參數(shù)計算（如 Ra、Rz、Rq），計算結(jié)果與標準樣板的偏差在可接受范圍內(nèi)，滿足材料研究的精度需求。

三、用材與參數(shù)

核心光學部件選用高品質(zhì)材料，干涉儀分光鏡采用石英材質(zhì)，具有良好的透光性與化學穩(wěn)定性，確保光信號傳輸穩(wěn)定。物鏡組采用多片式鏡片組合，通過精密光學設(shè)計矯正像差，提升成像質(zhì)量。樣品臺導軌采用不銹鋼材質(zhì)，表面經(jīng)過精密研磨，滑動順暢且磨損小，使用壽命長。

以下為 ContourX-100 材料研究場景主要參數(shù)表：

項目	參數(shù)
型號	ContourX-100（三維光學輪廓儀）
測量原理	白光干涉 + 共聚焦
垂直分辨率	0.1nm
水平測量范圍	1μm - 10mm
樣品臺材質(zhì)	大理石臺面 + 不銹鋼導軌
物鏡倍率	5×、10×、20×、50×、100×
數(shù)據(jù)處理軟件	Vision64（支持多種分析功能）
電源要求	AC 220V±10%，50Hz，150W
設(shè)備重量	約 55kg

四、用途與使用說明

在材料研究中，ContourX-100 可用于金屬材料磨損表面分析、陶瓷材料燒結(jié)后的表面平整度檢測、高分子薄膜的厚度均勻性評估等。通過三維形貌數(shù)據(jù)，幫助研究人員分析材料制備工藝與表面性能的關(guān)聯(lián)。

使用時，先開機預熱 30 分鐘，確保光學系統(tǒng)穩(wěn)定。將材料樣品固定在樣品臺上，根據(jù)樣品尺寸與表面特征選擇合適的物鏡。在軟件中設(shè)置測量參數(shù)，如掃描步長（可選 0.1μm - 1μm）、測量區(qū)域（最大 10mm×10mm），啟動測量程序。設(shè)備將自動完成掃描并生成三維圖像，可通過軟件進行粗糙度計算、截面分析等操作，數(shù)據(jù)可導出至 Excel 或?qū)I(yè)繪圖軟件進一步處理。

布魯克 ContourX-100 以靈活的測量模式與可靠的數(shù)據(jù)分析能力，為材料表面研究提供了全面支持，助力科研人員獲取精準的實驗數(shù)據(jù)。

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