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產(chǎn)品簡介
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護體系，為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。
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澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 典型樣品 | 推薦模式 | 關(guān)鍵設(shè)置 |
|---|---|---|---|
| 鋰電正極顆粒 | NCM 粉末 | BSE?+?低壓 (10?kV) | 導(dǎo)電膠、工作距離 ≈?8?mm |
| 金屬粉末 | 316L 粉末 | SE?+?拼圖 (15?kV) | 5?×?5 陣列，Z 步進 60?µm |
| 生物濾膜 | 聚碳酸酯核孔膜 | SE?+?低壓 (3?kV) | 5?nm 金層鍍膜，工作距離 ≈?5?mm |
| 元素分析 (EDS) | Cu?Zn 合金 | BSE?+?EDS (7?15?kV) | SDD 探測器，計數(shù)率 30?kcps，能量分辨率 ≤?129?eV |
鋰電顆粒：10?kV、50?pA 條件下，BSE 成像可分辨 30?nm 裂紋，低壓模式避免充電。
金屬粉末：利用 5?×?5 拼圖功能，自動 Z 軸移動 60?µm，得到大景深全景圖，孔洞對比度 >?0.3，便于孔隙率統(tǒng)計。
生物濾膜：5?nm 金層抑制充電，3?kV 低壓下孔徑 200?nm 清晰可見，適合細(xì)胞捕獲后計數(shù)。
EDS：配備 30?mm2 SDD 探測器，Mn?Kα 能量分辨率 129?eV（計數(shù)率 50?kcps），可實現(xiàn) B?C?N?O 輕元素的定量分析。
結(jié)語
澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護體系，為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。以上六篇推廣文章從硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作指南、環(huán)境要求到典型應(yīng)用，系統(tǒng)展示了 ZEM20 的技術(shù)優(yōu)勢與實際價值，幫助實驗室快速評估并實現(xiàn)采購與使用。
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用
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