Sensofar白光干涉三維輪廓儀：簡(jiǎn)潔實(shí)用設(shè)計(jì)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Sensofar白光干涉三維輪廓儀：簡(jiǎn)潔實(shí)用設(shè)計(jì)
基礎(chǔ)版S neox采用模塊化桌面結(jié)構(gòu)，機(jī)身尺寸約700mm×600mm×900mm，重量適中，可輕松放置在車(chē)間質(zhì)檢臺(tái)或?qū)嶒?yàn)室角落。

產(chǎn)品型號(hào)：S neox

更新時(shí)間：2025-10-29

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：83

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

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Sensofar白光干涉三維輪廓儀：簡(jiǎn)潔實(shí)用設(shè)計(jì)

基礎(chǔ)版S neox采用模塊化桌面結(jié)構(gòu)，機(jī)身尺寸約700mm×600mm×900mm，重量適中，可輕松放置在車(chē)間質(zhì)檢臺(tái)或?qū)嶒?yàn)室角落。操作界面簡(jiǎn)化了專(zhuān)業(yè)參數(shù)設(shè)置，保留核心功能圖標(biāo)，如“粗糙度分析"“缺陷篩查"等，新手可通過(guò)引導(dǎo)式操作完成檢測(cè)。檢測(cè)平臺(tái)配備基礎(chǔ)固定夾具，能適配常見(jiàn)的塑料零件、電子元件等樣品，更換夾具僅需3分鐘。

二、性能表現(xiàn)：滿足常規(guī)檢測(cè)需求

該型號(hào)縱向分辨率達(dá)納米級(jí)，能清晰識(shí)別電子元件表面微米級(jí)的劃痕與凸起。共聚焦模式下支持 Ra、Rz 等基礎(chǔ)表面參數(shù)計(jì)算，符合 ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn)。檢測(cè)速度適配中小批量需求，常規(guī)樣品 3D 掃描約 4 分鐘完成，數(shù)據(jù)重復(fù)性良好，多次測(cè)量偏差可控。搭配 2.5x 低倍率物鏡時(shí)，可實(shí)現(xiàn)大視野檢測(cè)，減少樣品移動(dòng)次數(shù)。

三、用材與成本平衡

核心光學(xué)部件選用高透光率玻璃，雖未采用進(jìn)階版的鍍膜，但仍能保證日常檢測(cè)的圖像清晰度。機(jī)身框架采用標(biāo)準(zhǔn)鋁合金，在重量與抗振性之間取得平衡，適合普通車(chē)間環(huán)境。內(nèi)部電子元件以穩(wěn)定性為首要選擇，降低維護(hù)頻率，長(zhǎng)期使用成本更具優(yōu)勢(shì)。

四、操作示例與適用場(chǎng)景

以塑料零件粗糙度檢測(cè)為例：1. 將零件放在不銹鋼平臺(tái)上，用通用夾具固定；2. 打開(kāi)軟件，選擇 “基礎(chǔ)檢測(cè)" 模式，輸入樣品編號(hào)；3. 設(shè)置掃描范圍 5mm×5mm，點(diǎn)擊 “開(kāi)始"；4. 檢測(cè)完成后，軟件自動(dòng)計(jì)算 Ra 值并生成 PDF 報(bào)告，可直接導(dǎo)出存檔。該型號(hào)廣泛適用于電子元件外觀缺陷檢測(cè)、塑料配件尺寸篩查、小型金屬零件粗糙度測(cè)量等場(chǎng)景。

五、核心參數(shù)簡(jiǎn)表

項(xiàng)目	規(guī)格
檢測(cè)技術(shù)	3D 共聚焦白光干涉技術(shù)
檢測(cè)范圍	5μm-3mm
縱向分辨率	納米級(jí)
核心功能	基礎(chǔ)粗糙度分析、缺陷篩查
設(shè)備重量	約 50kg
數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式	PDF、Excel