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產品簡介
Sensofar 3D光學輪廓儀的光學薄膜檢測:Sensofar S neox可對光學薄膜的厚度、表面缺陷及應力形變進行納米級測量,確保其表面質量與膜厚均勻性,保障光學系統(tǒng)性能。
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Sensofar 3D光學輪廓儀的光學薄膜檢測
Sensofar S neox 3D光學輪廓儀在光學薄膜檢測中具有重要應用。光學薄膜是現(xiàn)代光學系統(tǒng)的關鍵組成部分,其表面質量直接影響光學性能。該儀器為光學薄膜的檢測提供了有效的技術手段。
Sensofar 3D光學輪廓儀的光學薄膜檢測
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