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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的薄膜研究應(yīng)用
產(chǎn)品簡介
Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的薄膜研究應(yīng)用:S neox可測量納米級(jí)膜厚、分析表面生長形貌與應(yīng)力,助力優(yōu)化沉積工藝,并為薄膜失效分析提供直觀依據(jù)。
Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的薄膜研究應(yīng)用
Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的薄膜研究應(yīng)用
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